Шаблоны документов

Nioch-logo

  

 старая версия сайта

Шаблоны документов

Бланки заявок и образцы документов, используемых в НИОХ СО РАН

 
Название документа формат дата создания/
обновления
Реквизиты Института
Бланки внутренних общеинститутских документов
Приказ №3 от 15.01.2018 г. Об изменении бланков НИОХ СО РАН PDF 15 января 2018 г.
бланк приказа по институту RTF 10 сентября  2018 г.
продольный бланк письма RTF 10 сентября 2018 г.
угловой бланк письма RTF 10 сентября018 г.
бланк на ангийском языке RTF 10 сентября 2018
бланк доверенности RTF 10 сентября 2018 г.
бланк зам.директора RTF 10 января 2012 г.
Приказ №54 от 13.07.2020 О назначении постоянно действующей комиссии по выводу и приемке в эксплуатацию перепрофилированных и вновь оборудованных после ремонта объектов лабораторного и производственного назначения Института
План размещения оборудования в помещении DOCX 20 июля 2020 г.
Дефектная ведомость DOCX 20 июля 2020 г.
Акт приемки в эксплуатацию DOCX 20 июля 2020 г.
Порядок списания приборов и оборудования
New!  Порядок списания ОС DOCX 01 января 2021 г.
New!  Приказ №4 от 21 01 2021 Об утверждении перечней особо ценного движимого имущества на 01.01.2021 года PDF 21 января 2021 г.
New!  Служебная записка на списание ОС (пример) PDF 21 января 2021 г.
New!  Служебная записка на списание ОС XLS 21 января 2021 г.
Бланки заявок для ОХЦ
Заявка на утилизацию оргсливов в ОХЦ WORD 18 июня 2025 г.
Оформление экспертного заключения
Экспертное заключение о возможности опубликования RTF 20 января 2019 г.
 УВЕДОМЛЕНИЕ о создании в связи с выполнением трудовых обязанностей или конкретного задания работодателя охраноспособного результата интеллектуальной деятельности RTF 8 ноября 2017 г.
Заявление о выдаче денег под отчет, Заявление о возмещении служебных расходов RTF 8 февраля 2018 г.
Заявка в Тех. службы RTF 26 июля 2013 г.
Бланки заявок на выполнение анализов и физико-химических измерений, а так же работ в ИЦ СО РАН
Заявки на регенерацию SiO2 WORD 05 января 2025 г.
на газо-хроматографический анализ PDF 25 апреля 2013 г.
на элементный анализ (микроанализ) PDF 16 декабря 2010 г.
на регистрацию спектров ЯМР PDF 16 декабря 2010 г.
на регистрацию ИК-спектров PDF 16 декабря 2010 г.
на регистрацию электронных спектров (UV/Vis) PDF 16 декабря 2010 г.
на регистрацию масс-спектров (DFS) PDF 16 декабря 2010 г.
на поляриметр PDF 16 декабря 2010 г.
на регистрацию газовых хромато-масс-спектрограмм PDF 16 декабря 2010 г.
на регистрацию жидкостных хромато-масс-спектрограмм PDF 16 декабря 2010 г.
на флуориметр PDF 16 декабря 2010 г.
на электронный микроскоп PDF 16 декабря 2010 г.